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方塊電阻測試儀 四探針方塊電阻分析儀 半導體方塊電阻測量儀

  • 簡單描述
  • 方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類似國家標準和美國A.S.T.M標準而設計,專門測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻,單位Ω/□)的新型儀器??捎糜跍y量一般半導體材料、導電薄膜(如ITO透明導電氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
  • 產(chǎn)品型號:  DL10-GT14-ST-21
  • 更新時間:  2024-04-03
  • 訪問次數(shù):  3023
詳細介紹

方塊電阻測試儀  四探針方塊電阻測試儀 半導體方塊電阻測量儀  

型號:DL10-GT14-ST-21

詳細說明

方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類似國家標準和美國A.S.T.M標準而設計,專門測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻,單位Ω/□)的新型儀器??捎糜跍y量一般半導體材料、導電薄膜(如ITO透明導電氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

特 點

* 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩(wěn)定;

* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰;

* 采用單個干電池供電,帶電池欠壓指示;

* 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

* 輕便手持式設計操作、測試簡便; *.特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜;

* 帶探頭與被測物質(zhì)接觸良好指示(LED) 、探頭帶抗靜電模塊;

* 單電源開關(guān),推拉式探頭-主機接插件,操作極其簡便;

技 術(shù) 指 標

1. 測量范圍:

按方塊電阻量值大小分為二個量程檔:

○1 1.00~199.99Ω/□;

○2 10.0~1999.9Ω/□;

2. 恒流源:

測量過程誤差:≤±0.8%;

3. 模數(shù)轉(zhuǎn)換器:

量程:0~199.99mv;

分辨率:10μv;

方式:LCD大屏幕顯示;極性,超量程均自動顯示;小數(shù)點同步顯示;

4. 測量不確定度:

在整個量程范圍內(nèi),測量不確定度≤5%

5. 四探針頭:

間距:1mm或3.8mm可選,偏差:≤2%;

針間絕緣電阻≥500MΩ;

6. 電源:9V疊層電池1節(jié)

北京北信科儀分析儀器有限公司

地址:北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

:李

 

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